NANO FOCUS USURF EXPLORER

  

NANO FOCUS USURF EXPLORER/EXPERT

System pomiarowy NanoFocus µsurf explorer jest uniwersalnym, kompaktowym rozwi─ůzaniem do bada┼ä powierzchni 3D. Urz─ůdzenie jest dedykowane zastosowaniom metrologicznym, laboratoriom testowym, zak┼éadom produkcyjnym. Mo┼╝e on by─ç dobr─ů alternatyw─ů dla pomiarów wykonywanych tradycyjnie mikroskopem SEM (brak konieczno┼Ťci przeprowadzania preparatyki) jak i profilometrem czy AFM'em (brak zu┼╝ycia powierzchni, znacz─ůco wy┼╝sza szybko┼Ť─ç)

Systemy NanoFocus µsurf umo┼╝liwiaj─ů szybkie, bezkontaktowe obrazowanie 3D pomiary topografii, mikrogeometrii, chropowato┼Ťci, falisto┼Ťci, obj─Öto┼Ťci oraz innych istotnych w┼éa┼Ťciwo┼Ťci powierzchni, w skali mikro i nano. Wszystkie pomiary wykonywane s─ů w odniesieniu do obowi─ůzuj─ůcych norm ISO, a wyniki pomiarów mog─ů by─ç przedstawiane w postaci personalizowanych, kompletnych raportów.

 

 nano focus usurf explorer 4

 

nano focus usurf explorer 2


Zasada dzia┼éania systemów
NanoFocus µsurf  opiera si─Ö na opatentowanej technologii konfokalnej wykorzystuj─ůcej obracaj─ůcy si─Ö dysk z wieloma pinholami. Na bazie sk┼éadania kolejnych p┼éaszczyzn badanej powierzchni otrzymujemy bardzo dok┼éadny (99% korelacji z profilometrami stykowymi) 3-wymiarowy obraz elementu. W zale┼╝no┼Ťci od potrzeb pomiarowych, wielko┼Ťci elementów, wymaganej dok┼éadno┼Ťci dobierane s─ů kolejne elementy systemu które pozwalaj─ů na jego dopasowanie do wymaga┼ä u┼╝ytkownika.

µsurf explorer dzi─Öki swojej stabilnej podstawie i ruchomemu stolikowi pomiarowemu pozwala wykonywa─ç pomiary elementów o ro┼╝nych gabarytach przy zachowaniu bardzo wysokiej dok┼éadno┼Ťci i niewra┼╝liwo┼Ťci na pewne zmienne ┼Ťrodowiskowe. Do systemu µsurf explorer mo┼╝na dopasowa─ç odpowiednie komponenty takie jak obiektywy, misk─Ö rewolwerow─ů, wyspecjalizowane pakiety oprogramowania, tak aby system w jak najlepszy sposób spe┼énia┼é wymagania u┼╝ytkownika.

Rozwini─Öciem systemu expert jest µsurf expert dedykowany najbardziej wymagaj─ůcym u┼╝ytkownikom.  Jako flagowy produkt w gamie NanoFocus  daje on najwy┼╝sz─ů mo┼╝liw─ů jako┼Ť─ç obrazowania, oferuj─ůc m.in. najwy┼╝sz─ů rozdzielczo┼Ť─ç skanowania 2040x2040 pixeli, mo┼╝liwo┼Ť─ç obrazowania wi─Ökszych próbek  oraz zapewniaj─ůc mo┼╝liwo┼Ť─ç dodatkowego podgl─ůdu obrazu na ┼╝ywo dzi─Öki wysokorozdzielczym kamerom.

nano focus usurf explorer 8

Cechy systemu µsurf explorer

  • zgodno┼Ť─ç z normami ISO, VDI
  • mo┼╝liwo┼Ť─ç automatyzacji procesu pomiarowego
  • mo┼╝liwo┼Ť─ç bada┼ä elementów bardzo odb┼éyskliwych, o ma┼éej chropowato┼Ťci
  • du┼╝a szybko┼Ť─ç akwizycji obrazu
  • doskona┼éa alternatywa dla SEM/AFM
  • bardzo szybki, bezkontaktowy pomiar 3D powierzchni
  • najwy┼╝sza precyzja i dok┼éadno┼Ť─ç dzia┼éania
  • ┼éatwo┼Ť─ç obs┼éugi

 nano focus usurf explorer 1

Zastosowania systemu µsurf explorer

 nano focus usurf explorer 3

  • badania pow┼éok
  • pomiary powierzchni blach
  • badania kulek polimerowych, metalowych
  • badania implantów biodrowych
  • badania elementów MEMS

Przyk┼éadowe obrazy powierzchni wykonane systemem µsurf explorer

nano focus usurf explorer 7

nano focus usurf explorer 6

Pliki do pobrania

Produkty polecane