MIKROSKOP SERII SK

Mikroskop serii SK

Seria SK – to mikroskopy przystosowane do prowadzenia obserwacji i bada┼ä trójwymiarowych drobnych przedmiotów, próbek minera┼éów, ro┼Ťlin, owadów, itp. w ┼Ťwietle odbitym, przechodz─ůcym lub w obu jednocze┼Ťnie. Wysoka jako┼Ť─ç optyki w po┼é─ůczeniu z nowoczesnymi systemami o┼Ťwietlenia gwarantuje doskona┼éej jako┼Ťci obraz. Modu┼éowa konstrukcja mikroskopu w po┼é─ůczeniu z du┼╝ym wyborem podstaw, o┼Ťwietlaczy i innych akcesoriów pozwala dopasowa─ç mikroskopy tej samej serii do indywidualnych potrzeb badawczych. Mikroskop mo┼╝e by─ç wyposa┼╝ony w uk┼éad do fotografii cyfrowej/prezentacji wideo. Na ┼éatw─ů archiwizacj─Ö zdj─Ö─ç pozwala nowoczesne oprogramowanie do bezpo┼Ťredniego sterowania prac─ů kamery z poziomu komputera. Opcjonalny system analizy obrazu pozwala na wykonywanie ró┼╝nego rodzaju pomiarów. Ponadto system ten mo┼╝e by─ç rozbudowywany w oparciu o indywidualne potrzeby u┼╝ytkownika daj─ůc nowe mo┼╝liwo┼Ťci pomiarowe.

SK

Specyfikacja techniczna

ParametrOpis szczegó┼éowy
Optyka Wysokiej klasy optyka, gwarantuje dok┼éadno┼Ť─ç prowadzonych bada┼ä i obserwacji. Zakres powi─Öksze┼ä mo┼╝e by─ç modyfikowany przez opcjonalne obiektywy
Głowica

Wyskalowane pokr─Öt┼éo p┼éynnej zmiany powi─Öksze┼ä z regulacj─ů w zakresie 0,7x do 4,5x. Dost─Öpna w wersji dwu- lub trójokularowej z regulacj─ů rozstawu okularów od 55mm do 75mm, korekcj─ů dioptryjn─ů na obydwu okularach +/-5 dioptrii

G┼éowica ze skokow─ů zmian─ů powi─Ökszenia (opcjonalnie) G┼éowica ze skokow─ů zmian─ů powi─Ökszenia dost─Öpna w wersjach: 1x, 3x lub 2x, 4x.Oferowane w wersjach dwu- lub trójokularowej z regulacj─ů rozstawu okularów od 55mm do 75mm, korekcj─ů dioptryjn─ů na obydwu okularach +/-5 dioptrii
Zakres powi─Ökszenia G┼éowica ZOOM: w wyposa┼╝eniu standardowym od 7x do 45x w wyposa┼╝eniu opjconalnym od 2x do 225x. G┼éowica ze skokow─ů zmian─ů powi─Ökszenia:
  • W wyposa┼╝eniu standardowym od 10x, 30x lub 20x, 40x 
  • W wyposa┼╝eniu opcjonalnym od 3x do 60x lub 6x do 80x
Podstawa Mo┼╝liwo┼Ť─ç indywidualnego dopasowania rodzaju podstawy do obserwacji w ┼Ťwietle odbitym i przechodz─ůcym podstawy z wysi─Ögnikami (spr─Ö┼╝ynowe i z przeciwwagami) wolnostoj─ůce lub mocowane do blatu
O┼Ťwietlenie Jasne regulowane o┼Ťwietlenie diodowe EPI/DIA– LED (standard). opcjonalne zestawy o┼Ťwietlaczy PHOTONIC, SCHOTT, OPTA-TECH dost─Öpne s─ů osobno
Stolik (opcjonalnie) Stolik mechaniczny pomiarowy, bezw┼éadno┼Ťciowy

Pliki do pobrania

Produkty polecane